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产品名称:TP200雷尼绍测头测力吸盘|SF/LF/EO/STD/LOW
产品型号:
更新时间:2026-11-08
产品特点:TP200雷尼绍测头测力吸盘|SF/LF/EO/STD/LOW三坐标探头测头测力吸盘传感器型号:SF标准测力模块(A-1207-0010)、LF低测力模块(A-1207-0011)和EO长超程模块(A-1207-0012)。TP200测头测力模块用于控制触测时的测力大小,以适应不同工件和测量场景,核心是避免损伤工件或测针,同时保证测量精度。提供TP200雷尼绍测头测力吸盘型号货号价格及置
TP200雷尼绍测头测力吸盘|SF/LF/EO/STD/LOW的详细资料:
TP200雷尼绍测头测力吸盘|SF/LF/EO/STD/LOW三坐标探头测头测力吸盘传感器型号:SF标准测力模块(A-1207-0010)、LF低测力模块(A-1207-0011)和EO长超程模块(A-1207-0012)。TP200测头测力模块用于控制触测时的测力大小,以适应不同工件和测量场景,核心是避免损伤工件或测针,同时保证测量精度。提供TP200雷尼绍测头测力吸盘型号货号价格及置。
TP200雷尼绍测头测力吸盘|SF/LF/EO/STD/LOW三坐标探头测头测力吸盘传感器技术参数:
TP200标准测力模块(吸盘)的订货号为A-1207-0010,属于雷尼绍三坐标测头系统的测针模块,采用磁性接头连接测头本体,具备快速交换和超程保护功能。
技术参数
测力(测尖):XY平面 0.02 N,Z轴 0.07 N。
超程测力(位移0.50 mm时):XY平面 0.2 N至0.4 N,Z轴 4.90 N。
单向重复性 (2s):触发水平1为0.40 µm,触发水平2为0.50 µm。
XY (2D) 轮廓测量偏差:触发水平1为±0.80 µm,触发水平2为±0.90 µm。
XYZ (3D) 轮廓测量偏差:触发水平1为±1 µm,触发水平2为±1.40 µm。
测针交换重复性:SCR200自动交换架为±0.50 µm,手动为±1 µm。
测针长度:SF/EO模块配钢质测针50 mm,配GF测针可达100 mm。
重量:测头传感器加模块共22 g。
适配与安装
安装方式:M8螺纹。
适合接口:PI200、UCC。
测针系列:M2。
测针模块交换架:自动用SCR200,手动用MSR1。
加长杆:配在PH10系列测座上可达300 mm。
模块选型参考
TP200系统有三种测针模块可选,标准测力模块适用于一般测量场景:
SF(标准测力):一般使用,测针长100 mm,测球直径大于1 mm。
LF(低测力):适用于小直径测球或需小测力的场合,测球直径小于1 mm。
EO(长超程):超程测力与SF相同,但Z轴额外提供8 mm超程,适合较高碰触速度下安全停止。
TP200测头的测力模块主要有三种型号:SF标准测力模块(A-1207-0010)、LF低测力模块(A-1207-0011)和EO长超程模块(A-1207-0012)。
三种模块的区别
SF标准测力模块(A-1207-0010):一般用途,测针长可达100 mm,测球直径需大于1 mm。
LF低测力模块(A-1207-0011):适合小直径测球(小于1 mm)或必须使用低测力的场合,XY平面超程测力0.1 N至0.15 N,Z轴1.60 N。
EO长超程模块(A-1207-0012):超程测力与SF相同,但Z轴额外提供8 mm超程,使测头在较高碰触速度下能安全停止并回退。
另外,TP200测头本体(传感器)单独型号为A-1207-0020,TP200B测头本体(抗振动型号)为A-1207-0056;整套包含标准测力模块和测头体的是A-1207-0001,整套包含低测力模块的是A-1207-0002。
P200测头是雷尼绍(Renishaw)的触发式三坐标测头,采用应变片技术,精度和寿命优于机械式测头。 完整系统由测头本体、测针模块和接口组成,不同部件对应不同订货型号:
常用型号对照
TP200测头本体(传感器):A-1207-0020,即标准TP200传感器。
TP200B测头本体:A-1207-0056,抗振动能力更强,适合易误触发场合。
标准测力模块(SF):A-1207-0010,一般用途,测针长达100 mm。
低测力模块(LF):A-1207-0011,适合小直径测球或敏感表面。
长超程模块(EO):A-1207-0012,超程范围更大,Z轴方向额外8 mm保护。
套装(含标准测力模块+本体):A-1207-0001。
套装(含低测力模块+本体):A-1207-0002。
选型注意
TP200B(A-1207-0056)不推荐搭配LF模块或曲柄/星形测针。
配套接口为PI 200或PI 200-3,测针系列为M2螺纹。
单向重复性约0.40 µm,测针交换重复性(SCR200自动交换架)约±0.50 µm。
TP200测头测力模块用于控制触测时的测力大小,以适应不同工件和测量场景,核心是避免损伤工件或测针,同时保证测量精度。TP200提供SF(标准测力)、LF(低测力)和EO(长超程)三种模块,测力特性不同,选对模块很关键。
三种模块怎么选
SF标准测力模块:日常通用,适合大多数常规测量。测针长100mm,测球直径大于1mm,XY平面超程测力0.2N至0.4N,Z轴4.90N。
LF低测力模块:适合小直径测球(小于1mm)或必须用小测力的场合,如薄壁件、软材料、细小特征。XY平面超程测力仅0.1N至0.15N,Z轴1.60N,明显更“轻触"。
EO长超程模块:超程测力与SF相同,但Z轴额外提供8mm超程保护。适合高速碰触或容易碰撞的场景,给测头留出更多安全缓冲距离。
测力参数
测尖测力:XY平面所有模块均为0.02N,Z轴0.07N,这是正常触测时的力。
超程测力:指测头继续压向工件时的力,SF/EO模块XY平面0.2N至0.4N,LF模块仅0.1N至0.15N,差异主要在此。
选LF模块时,测针长度限制更严格:钢质测针长20mm,GF测针长50mm,比SF模块短不少。
配套使用
测力模块通过磁性接头装在TP200测头本体上,可快速手动或自动(配SCR200交换架)更换,无需重新标定测尖。自动交换约6秒,比手工快很多,适合多任务测量。
TP200测头是英国雷尼绍(Renishaw)的一款应变片式触发测头,技术参数如下:
精度性能
单向重复性 (2σ):触发水平1为0.40 µm,触发水平2为0.50 µm
XY (2D) 轮廓测量偏差:触发水平1为±0.80 µm,触发水平2为±0.90 µm
XYZ (3D) 轮廓测量偏差:触发水平1为±1 µm,触发水平2为±1.40 µm
测针交换重复性:使用SCR200自动交换架为±0.50 µm,手动交换为±1 µm
测力参数
测尖测力:XY平面(所有模块)为0.02 N,Z轴为0.07 N
超程测力(位移0.50 mm时):
XY平面:SF/EO模块为0.2 N至0.4 N,LF模块为0.1 N至0.15 N
Z轴:SF/EO模块为4.90 N,LF模块为1.60 N
机械规格
感应方向:六轴,±X、±Y、±Z
重量:测头传感器和模块共22 g
安装方式:M8螺纹
测针系列:M2
加长杆:配PH10系列测座时可达300 mm
测针模块选择
TP200有三种测针模块,对应不同应用场景 :
SF(标准测力):一般使用,测针长100 mm,测球直径大于1 mm
LF(低测力):适合小直径测球或需小测力的场合,测球直径小于1 mm
EO(长超程):超程测力与SF相同,但Z轴额外提供8 mm超程保护
推荐测针长度:SF/EO模块为50 mm钢质至100 mm玻璃纤维(GF);LF模块为20 mm钢质至50 mm玻璃纤维
系统兼容性
适合接口:PI 200-3、UCC
测针模块交换架:自动为SCR200,手动为MSR1
寿命:超过1000万次触发
TP200采用微应变片传感器,具有零复位误差、无各向异性影响的特点,适合高精度数控坐标测量机使用。另有TP200B型号,技术相同但允许更大振动公差,适合存在传导振动或高速移动场景,但不建议配用LF模块或曲柄/星形测针 。





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