TP200系统组件包括：

• TP200或TP200B测头本体（TP200B型号可承受更大的振动公差）

• TP200测针模块 — 选择固定过行程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）

• PI 200-3测头接口

• SCR200测针交换架

还有一种EO模块（长过行程），过行程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向上提供保护。

特性与优点

• 应变片技术可实现优异的重复性和三维形状测量精度

• 零复位误差

• 无各向异性影响

• 六向测量能力

• 测针测量距离长达100 mm（玻璃纤维测针）

• 快速交换测头模块，无需重新标定测尖

• 寿命 > 1000万次触发

TP200/TP200B测头本体

TP200测头采用微应变片传感器，可实现优异的重复性和三维形状测量精度，即使配用长测针时也不例外。

传感器技术具有亚微米级重复性，并且消除了机械式测头存在的各向异性问题。测头内部采用固态ASIC电子元器件，

可确保数百万次触发的可靠操作。

TP200B采用的技术与TP200相同，但可承受更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下

使用长测针所引发的误触发问题。

请注意：我们不推荐将TP200B配用LF模块或曲柄式/星形测针。

TP6和TP6A测头具有不同的测头安装选项（分别为M8螺纹安装和自动吸附接头安装）。这两种测头都是机械式触发测头，

测力都可手动调节，可针对不同测针配置实现头性能。

它们可以配用长测针（M3系列），直径为25 mm，可提供大的过行程量。

SP25M由两个测头组成，包含在同一个外壳中。用户可在五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）以及一个与雷尼绍TP20系列

测头模块兼容的转接模块之间进行切换。这一功能可实现利用一个测头系统进行扫描和触发式测头测量。

SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS/PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。

同时，这些组合具有测量能力，可检测各种零件特征。

特性与优点

• 超小型扫描测头，直径仅为25 mm

  SP25M配用一系列FCR25模块交换系统，每个系统都可将各个SP25M系统元件存储在每个库位中。

• SM25扫描模块和TM25-20 TTP模块转接头可直接存储在FCR25库位中

• SH25扫描测针吸盘需要使用PA25-SH转接头

• TP20模块可使用PA25-20转接头存放

• 测量性能 — 光学传感和三次多项式补偿

• 五个模块在各种测针长度（长达400 mm）范围内均可实现性能

• 二合一测头 — 扫描和触发

• 防碰撞保护功能，测针交换简单

• 快速简便的测头标定循环程序

• 适用于轮廓和形状测量

• 适用于机动可重复定位测座，灵活性更强，扫描循环时间更短

• 设计简洁、刚性好、可靠性更高

SP25M模块和测针吸盘

利用SP25M的一系列模块组件，用户能够随着时间的推移增强测头测量能力。

每一种SM25-#扫描模块在增益和弹簧刚性方面都经过优化处理，可适应规定的测针长度范围。每一种模块都有相匹配的SH25

-#测针吸盘。

SH25-3和SH25-4测针吸盘是一根固定的碳纤维杆，上面安装M3测针，可提供合适的工作长度。

同时，SP25M在使用 SM25-1/2/3/4/5扫描模块和标准测针吸盘 (SH25-1/2/3/4/5) 时，可以安装曲柄式（非直式）测针配置；

但是在需要较大偏置的应用场合，为了实现测量性能，雷尼绍建议使用SH25-2A/3A/4A系列测针吸盘，该系列测针吸盘用于解决此类测针组合

可能带来的问题。