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产品名称:SINPO新天全自动影像测量仪
产品型号:
更新时间:2026-04-28
产品特点:SINPO新天全自动影像测量仪型号:JVB300C、JVB300CF、JVB300CU、JVB300CJ、JVB300CT、JVB400C、JVB400CF、JVB400CU、JVB400CJ、JVB400CT、JVB500C、JVB500CF、JVB500CU、JVB500CJ、JVB500CT等,测量行程(mm):300-500之间,分辨率:0.5um、01um。提供新天影像仪价格、维修及技术
SINPO新天全自动影像测量仪的详细资料:
SINPO新天全自动影像测量仪型号:JVB300C、JVB300CF、JVB300CU、JVB300CJ、JVB300CT、JVB400C、JVB400CF、JVB400CU、JVB400CJ、JVB400CT、JVB500C、JVB500CF、JVB500CU、JVB500CJ、JVB500CT等,测量行程(mm):300-500之间,分辨率:0.5um、01um。提供新天影像仪价格、维修及技术解决方案,产品质保12个月。

SINPO新天全自动影像测量仪技术参数:
JVB-C 全自动型影像测量仪特点
工作台及底座采用高精度花岗岩底座,强度高,稳定性好。
采用连续变倍物镜可以快速改变图像的放大倍率,适用于不同工件的测量。
导轨直接架在双零级花岗岩台面上,保证导轨运行精度。
集成化电路设计,软件操作简单,功能强大,稳定可靠。
可选配接触测头及激光测量,能自动实现空间坐标点位的测量,方便测出各种零件的三维轮廓尺寸、形状及位置精度。
JVB-C 全自动型影像测量仪技术参数:
贵阳新天光电JVB系列全自动影像测量仪的技术规格表,该系列是高精度光学测量设备,用于模具、电子零件、五金件等检测场景。

JVB-C 全自动型影像测量仪型号与参数对比
型号系列 JVB300C/CF/CU JVB400C/CF/CU JVB500C/CF/CU
测量行程(mm) 300×200×200 400×300×200 500×400×200
外形尺寸(mm) 860×802×1738 960×902×1768 960×1120×1768
仪器质量(kg) 350 500 550
精度等级 C/CF/CU三档 C/CF/CU三档 C/CF/CU三档
JVB-C 全自动型影像测量仪性能与配置:
1. 精度与分辨率
- 分辨力:标配0.5μm,可选配0.1μm,满足微米级测量需求。
- X/Y轴测量精度:
- JVB-C:±(3+L/200)μm
- JVB-CF:±(2.5+L/200)μm
- JVB-CU:±(2+L/200)μm
- 重复性:≤2μm,保障批量检测的稳定性。
- Z轴精度:±(5.0+L/200)μm,支持2.5次元高度测量。
2. 运动与控制
- 测量速度:X/Y轴高达150mm/s,Z轴80mm/s,兼顾效率与精度。
- 控制方式:智能一体化控制,支持鼠标、摇杆双操作模式,搭配CNC系统实现全自动批量测量。
- 传动方式:丝杆传动,配合花岗岩工作台,保证运动平稳无间隙。
3. 光学与成像系统
- 镜头:自动变焦镜头,光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率28-180X。
- CCD:标配高清晰彩色CCD,可选配数字CCD提升成像质量。
- 光源:PLC全角度智能程控照明系统(五环八区表面光+底部平行光),带激光指示器,适配不同工件的轮廓与表面测量。
4. 拓展与适配性
- 机台承重:30kg,适配大部分中小型工件。
- 可选拓展:
- 加装基恩士激光测量模块,型号变更为JVB-CJ,实现高精度非接触高度/深度测量。
- 加装RENISHAW接触探针,型号变更为JVB-CT,拓展为三维接触式测量能力。
- 软件系统:SINPO-CNC测量软件,支持自动对焦、轮廓匹配、SPC统计分析等功能。
JVB-C 全自动型影像测量仪适用场景与选型建议
- JVB300系列:适合小型零件(如电子接插件、微型五金件),预算有限且行程需求小的场景。
- JVB400系列:通用型适配大部分模具、注塑件、机加工件的检测需求。
- JVB500系列:针对较大尺寸工件(如大型钣金件、汽车零部件),或多工位批量检测场景。
- 精度等级选择:
- C档:满足常规工业检测需求,性价比高。
- CF/CU档:适合半导体、光学零件等高要求场景,精度逐级提升。
JVB-C 全自动型影像测量仪场景-型号-配置 快速匹配表:
根据客户使用场景 型号系列 精度等级 拓展配置建议
小型电子零件/手机配件(行程≤300×200) JVB300 C/CF档 标配光源+CCD即可,无需额外拓展
通用模具/注塑件/五金件(行程≤400×300) JVB400 CF档 标配+SPC统计软件(批量质检用)
汽车零部件/钣金件/较大工件(行程≤500×400) JVB500 C/CF档 建议配数字CCD,提升大工件成像清晰度
半导体/光学零件(精度要求高) JVB300/400/500 CU档 可选0.1μm分辨力+RENISHAW探针
需要测高度/深度(2.5D+高度测量) 任意行程 任意等级 加装基恩士激光模块(JVB-CJ)
需要测三维轮廓/孔位(3D接触式) 任意行程 任意等级 加装RENISHAW探针(JVB-CT)
JVB-C 全自动型影像测量仪选型方法:
1. 行程选择要留余量:工件尺寸要比测量行程至少小20mm,避免放料、装夹时超出行程范围。
2. 精度等级别盲目选精度高的:如果只是普通的尺寸检测,C档已经能满足大部分要求,CF/CU档适合对公差要求在±0.005mm以内的场景。
3. 拓展配置按需加装:激光/探针拓展会增加成本,只有明确需要高度/三维测量时再选,否则标配设备的性价比更高。
JVB-C 全自动型影像测量仪实物图:



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