Renishaw雷尼绍测头TP200/TP20/SP25M/SP600扫描测头探头探针三坐标非接触扫描测头，关于TP200/TP20/SP25M/SP600M/TP2-5W/SM25M/TP6/TP6A/TP7/TP7M/LP2 LP2H LP2DD LP2HDD/SP80扫描测头型号、价格、维修、替换、回收置换等解决方案。

雷尼绍测头是一款用于三坐标测头系统和机床测头系统的产品。

Renishaw雷尼绍测头TP200/TP20/SP25M/SP600扫描测头实物图及技术参数：

探针接触被测物体，与物体接触的力通过测头内部的弹簧来平衡，测针绕测头内部支点转动，造成一个或两个节点断开，是接触面积减小，电阻增加，当电阻到达触发阈值时，测头发出触发信号。

TP200测头吸盘对磁场敏感。所以测量时避免与带强磁性的夹具或工件接近，或者考虑使用防磁的测头或者使用碳纤维、陶瓷测针。

TP20又称三坐标三次元测头、模块、STD、吸盘、SF、传感器和TP20标准测力、中测力、高测力、低测力、6way、加长模块EM1和EM2、TP20下半组，是一款小型五向或六向机械结构式触发测头系统。双部件设计，由测头本体和可分离测针模块组成，使用高重复性磁接头连接。因此具备了手动或自动更换测针配置的功能，无需重新标定测针端部，大大节省了检测循环的时间。

     模块具有多种触发力，使测头性能能够符合测量需求。还有一系列测头加长杆及一个六向模块可供选择。测针安装螺纹与雷尼绍M2系列的测针匹配。

     TP20系统可方便地用于坐标测量机系统的改造，并与现有触发式测头接口、加长杆和转接头兼容。

英国雷尼绍RENISHAW接触式测头TP200 TP200B测头本体 A-1207-0011

雷尼绍renishaw海克斯康TP200 A-1207-0002测头 主体 吸盘模块

英国雷尼绍RENISHAW(Touch trigger probes)接触式测头TP200

Renishaw/雷尼绍TP200测头 TP200B测头本体 A-1207-0011

英国Renishaw雷尼绍TP200测头 A-1207-0011 模块 吸盘

雷尼绍RENISHAW测头TP20测头TP200传感器标准测力STD吸盘模块MED

RENISHAW测头 雷尼绍TP200测头 海克斯康三坐标TP200传感器 吸盘

详细描述

      RENISHAW 雷尼绍TP20是一种紧凑型5向或6向机械定位触发式测头。双部件设计，由测头体和可分离测针模块组成，使用高重复性磁接头连接。

因此具备了手动或自动更换测针配置的功能，无需重新标定测针端部，大大节省了检测循环的时

TP20套装型号有A-1371-0290  探针工具包包括1 x标准力测头 1 x中力模块

TP20 侧头体

TP20 侧头体（传感器）A-1371-0284

TP20 Non inhibit 侧头体（传感器） A-1371-0636

TP20 模块（吸盘）

TP20 标准测力模块（吸盘） A-1371-0270

TP20 中测力模块（吸盘）A-1371-0271

TP20 高等测力模块（吸盘） A-1371-0272

TP20 低测力模块（吸盘）A-1371-0392

Renishaw雷尼绍TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和精确的三维轮廓测量，

· 测针测量距离达100 mm（GF测针）

· 快速测头模块交换，无需重新标定测尖

· 寿命 >1 000万次触发

Renishaw雷尼绍TP200包含TP200测头体（传感器）和测力模块

A-1207-0001  包含标准测力模块和测头体

A-1207-0002 包含低测力模块和测头体

TP200传感器（测头体）型号为A-1207-0020

TP200B传感器（测头体）型号为A-1207-0056

TP200标准测力模块A-1207-0010

TP200低测力模块A-1207-0011

TP200 EO扩展模块A-1207-0012

可分离TP20探针吸盘，与TP20测头构成两件组合，允许手动和自动更换探针，而不需要对探针进行重新校正，从而大大缩短了检测周期。TP20根据不同的应用，提供了有各种测力和加长的吸盘，根据所环绕的颜色圈来定义。

TP20标准测力吸盘，采用的是黑色圈，是应用的一种TP20探针吸盘。

系统组件包括：

·       TP20测头体

·       TP20测头模块 — 七种不同选择，以适应各种应用

·       MCR20模块交换架 — 自动操作

·       MSR1模块存放架 — 手动操作

·       适合与雷尼绍的PI4-2、PI7-2或PI200连接

TP20规格

测头模块

目前可提供7种适合各种应用的测头模块系列，以端部的颜色区分。

模块 应用测力测针长度

交换架

模块		应用	测力*	测针长度
SF — 标准测力		适合大多数应用场合	XY：0.08 N Z：0.75 N 测针：10 mm	10 mm至50 mm玻璃纤维
LF — 低测力		低测力应用，例如橡胶密封件	XY：0.055 N Z：0.65 N 测针：10 mm	10 mm至30 mm
MF — 中测力		适合需要高于标准测力的应用场合	XY：0.1 N Z：1.9 N 测针：25 mm	10 mm至60 mm
EF — 高测力		大直径/偏重测针组件或因机器振动造成误触发的应用场合	XY：0.1 N Z：3.2 N 测针：50 mm	10 mm至60 mm
6W — 六向		在-Z方向测量，例如退刀槽	XY：0.14 N Z：1.6 N 测针：10 mm	10 mm至30 mm
EM1 STD — 50 mm加长杆		大多数需要50 mm加长杆的应用场合	XY：0.08 N Z：0.75 N 测针：10 mm	10 mm至50 mm
EM2 STD — 75 mm加长杆		大多数需要75 mm加长杆的应用场合	XY：0.08 N Z：0.75 N 测针：10 mm	10 mm至50 mm

* 低测力方向

MCR20测头模块交换架用于妥善存放测头模块，以便快速自动交换，并且保护它们不受工作环境中的空气污染。

TP200系统组件包括：

TP200或TP200B测头本体（TP200B型号可承受更大的振动公差）

• TP200测针模块 — 选择固定过行程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）

• PI 200-3测头接口

• SCR200测针交换架

还有一种EO模块（长过行程），过行程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向上提供保护。

特性与优点

• 应变片技术可实现优异的重复性和三维形状测量精度

• 零复位误差

• 无各向异性影响

• 六向测量能力

• 测针测量距离长达100 mm（玻璃纤维测针）

• 快速交换测头模块，无需重新标定测尖

• 寿命 > 1000万次触发

TP200/TP200B测头本体

TP200测头采用微应变片传感器，可实现重复性和三维形状测量精度，即使配用长测针时也不例外。

传感器技术具有亚微米级重复性，并且消除了机械式测头存在的各向异性问题。测头内部采用固态ASIC电子元器件，可确保数百万次触发的可靠操作。

TP200B采用的技术与TP200相同，但可承受更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。

请注意：我们不推荐将TP200B配用LF模块或曲柄式/星形测针。

SCR200交换架

SCR200可以高速自动交换多达六个TP200测针模块。SCR200由独立的测头接口PI 200-3供电，并可确保安全的测针交换。SCR200套件可包含在低测力和标准测力组件中，每一种组件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。TP6和TP6A测头具有不同的测头安装选项（分别为M8螺纹安装和自动吸附接头安装）。这两种测头都是机械式触发测头，测力都可手动调节，可针对不同测针配置实现测头性能。

SP25M由两个测头组成，包含在同一个外壳中。用户可在五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）以及一个与雷尼绍TP20系列测头模块兼容的转接模块之间进行切换。这一功能可实现利用一个测头系统进行扫描和触发式测头测量。

SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS/PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时，这些组合具有测量能力，可检测各种零件特征。

特性与优点

• 超小型扫描测头，直径仅为25 mm

  SP25M配用一系列FCR25模块交换系统，每个系统都可将各个SP25M系统元件存储在每个库位中。

• SM25扫描模块和TM25-20 TTP模块转接头可直接存储在FCR25库位中

• SH25扫描测针吸盘需要使用PA25-SH转接头

• TP20模块可使用PA25-20转接头存放

• 测量性能 — 独立的光学传感和三次多项式补偿

• 五个模块在各种测针长度（长达400 mm）范围内均可实现性能

• 二合一测头 — 扫描和触发

• 防碰撞保护功能，测针交换简单

• 快速简便的测头标定循环程序

• 适用于轮廓和形状测量

• 适用于机动可重复定位测座，灵活性更强，扫描循环时间更短

• 设计简洁、刚性好、可靠性更高 — 马达或锁定机构

SP25M模块和测针吸盘

利用SP25M的一系列模块组件，用户能够随着时间的推移增强测头测量能力。

每一种SM25-#扫描模块在增益和弹簧刚性方面都经过优化处理，可适应规定的测针长度范围。每一种模块都有相匹配的SH25-#测针吸盘。

SH25-3和SH25-4测针吸盘是一根固定的碳纤维杆，上面安装M3测针，可提供合适的工作长度。

同时，SP25M在使用 SM25-1/2/3/4/5扫描模块和标准测针吸盘 (SH25-1/2/3/4/5) 时，可以安装曲柄式（非直式）测针配置；但是在需要较大偏置的应用场合，为了实现理想测量性能，雷尼绍建议使用SH25-2A/3A/4A系列测针吸盘，该系列测针吸盘于解决此类测针组合可能带来的问题。

SM25-1

与SH25-1配用

测针长度：20 mm至50 mm

SM25-2

与SH25-2配用

测针长度：50 mm至105 mm

SM25-3

与SH25-3配用

测针长度：120 mm至200 mm

SM25-4

与SH25-4配用

测针长度：220 mm至400 mm

SM25-5

与SH25-5配用，用于非直测针和星形测针组合

测针长度：20 mm至100 mm

TM25-20 TTP转接模块

与TP20触发式模块和加长杆配用

FCR25自动交换架

SP25M配用一系列FCR25模块交换系统，每个系统都可将各个SP25M系统元件存储在每个库位中。

• SM25扫描模块和TM25-20 TTP模块转接头可直接存储在FCR25库位中

• SH25扫描测针吸盘需要使用PA25-SH转接头

• TP20模块可使用PA25-20转接头存放

FCR25

三库位装置适合安装在MRS模块交换架系统上。

FCR25库位转接头插片组件

PA25-SH和PA25-20插片，用于存放SH25-#测针吸盘或TP20测头模块。

FCR25-L3

用于较小坐标测量机 (CMM) 和光学坐标测量机的三库位独立装置。

FCR25-L6

用于较小坐标测量机和光学坐标测量机的六库位独立装置。

AC3接口卡

AC3接口卡设计用于由计算机或OEM控制器（ISA总线）提供坐标测量机系统控制的应用场合。接口卡执行测头管理功能。

SP25M测头组件

扫描测头

扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。

雷尼绍提供了一系列解决方案，适用于各种尺寸和配置的坐标测量机。

SP25M

具有扫描和触发式模块的25 mm直径扫描测头

SP600

高性能检测、数据采集和轮廓扫描

SP80

轴套式安装的扫描测头，选用长测针时仍能保持高性能

扫描原理

扫描测量提供了一种从规则型面工件或复杂工件上高速采集形状和轮廓度数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中，如果特征形状是整体误差预算的重要考量因素，或者必须对复杂表面进行检测，那么扫描测量可谓之选。

扫描测量需要在测头设计、机器控制和数据分析方面采用一种不同的方法。

雷尼绍扫描测头轻巧无电源机构（马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。独立的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的偏移量，以获得更高的精度和更快的动态响应。

雷尼绍RENISHAW测头SP25M/SM25-1 2 3 4扫描式传感器/模块/吸盘

雷尼绍RENISHAW测头SP600/SP600M扫描式传感器SH600 STD测头吸盘

雷尼绍renishaw SM25-1/SM25-2/SM25-3/SM25-4 扫描测头模块

Renishaw雷尼绍吸盘 海克斯康 TP20模块 A-1371-027传感器 测头

三坐标测头座 测头安装座 全自动测头座 PH10T测头座 PH10M测头座

RENISHAW测头 雷尼绍TP200测头 海克斯康三坐标TP200传感器 吸盘

RENISHAW雷尼绍RMP60 A-4113-0001机床 无线电分中寻边测头 探头

renishaw雷尼绍 海克斯康三坐标 TP20 A-1371-0270吸盘 测头 模块

Renishaw雷尼绍海克斯康三坐标TP200 A-1207-0020测头 吸盘模块

Renishaw雷尼绍 CK200 A-1085-0016 TP200三坐标测头 探头 清洁泥

英国 RENISHAW雷尼绍OMI-2接收器 0MP60测头

RENISHAW雷尼绍 OMP40-2 A-4071-0001 机床分中寻边测头 CNC探头

Renishaw雷尼绍OMP60 40-2无线电加工中心机床分中寻边测头 探头

雷尼绍renishaw TS34 CNC 机床接触式破损检测

英国RENISHAW雷尼绍 LP2HDD A-2063-6098 车床测头 探头

英国RENISHAW 雷尼绍 TS27R 激光 机床破损检测

M2M3雷尼绍三坐标测针三次元测头红宝石测针0.5/1.0/1.5/2.0/3.0

M2碳纤维加长杆延长杆测针M3雷尼绍陶瓷杆三坐标测针三次元测头

雷尼绍M4牙三坐标陶瓷杆测针A-5000-3709三次元探针6.0mm红宝石头

雷尼绍测针蔡司三次元测头海克斯康测针三坐标测针加长杆M2M3

一系列固定的及手动可转位测座，用于连接触发式测头和机器轴套，可灵活地对复杂部件进行检测。

MH20i：适用于TP20测针模块的可重复定位测座；

MH20：适用于TP20测针模块的定位测座；

MH8：适用于M8螺纹固定测头的可重复定位测座；

MIH(S)：具有内置LCD位置显示器的可重复定位测座；

PH1：具有偏置测头底座的定位测座；

PH5/1：具有五个测头插槽和B轴转位的固定式测座；

PH5：具有五个测头插槽的固定式测座；

PH6：具有一个测头插槽的固定式测座；

PH6M：具有自动铰接的固定式测座。

2、机动和自动测座

机动可重复定位测座可将测头放置在720个位置中的一个，所以可以在多个角度下进行测量。测座的这种重复性使这些位置可以重新调用，无需重新标定，节省了操作时间，并能够在角度上使用测头。

PH10机动可重复定位测座：可重复定位测座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有轴套式安装和测头式安装两种选项

3、伺服测座

机动伺服测座提供角度位置，适合水平测量臂坐标测量机。

4、触发式测头

触发式测头测量离散的点，是检测三维几何工件的理想选择。

Renishaw提供品种齐全、具有性价比的系统，既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测，也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。

TP20测头：具有模块交换功能的紧凑型机械式测头；

TP200测头：具有模块交换功能的紧凑型应变片式测头；

TP6(A)测头：具有M8和自动铰接固定选项的坚固机械式测头；

TP7M测头：具有自动铰接的应变片式测头；

OTP6M测头：用于检测软材料的光学触发式测头；

TP2/TP1S(M)测头：传统触发式测头。

5、扫描测头

扫描测头是微型测量仪器，每秒能够采集几百个表面点，可以测量形状、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。Renishaw提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。

SP25M测头：具有扫描和触发式模块的25 mm直径扫描测头；

SP600测头：高性能检测、数字化和轮廓扫描；

SP80测头：轴套安装式扫描测头，用长测针

扫描原理

扫描测量提供了从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。Renishaw扫描测头轻巧无源机构，具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的变形量，以获得更高的精度和更快的动态响应。

扫描系统如何采集并分析表面数据？

扫描测头提供连续的偏移量输出，与机器位置相结合，从而获得表面位置数据。进行扫描测量时，测头测尖开始与工件接触，然后沿工件表面移动，采集测量数据。在整个测量过程中，须将测头测针的偏移量保持在测头的测量范围内。要想取得优良测量结果，需要传感器与机器控制紧密集成，以及优良的滤波运算，以将合成数据转换为可用的表面信息。扫描驱动算法适用于工件轮廓测量，改变扫描速度使之匹配曲率的变化（表面越平，速度越快），然后调整数据采集速率（表面变化越快，采集的数据越多）。

1、用于工件找正和工件检测的机床测头

Renishaw测头系统是一种创新的解决方案，可以提高您的机床效率。

数控加工中心和车床上的触发式测头可用于识别并设定工件、对特征进行序中测量以进行适应性加工，并确认成品工件的尺寸。节省时间。 降低废品率。 保持竞争力。

加工中心用解决方案

OMP40-2：测头，电子组件微型化，不影响性能；

OMP60：调制光学传输，通过Renishaw TriggerLogic™,采用简单的测头配置，传输距离在6m以上；

OMP400：精巧型三维测量，三维性，能够测量立体表面，同时维持很高的精度；

RMP60：FHSS（调频）无线电传输，没有通道选择要求，工作距离长达15m；

RMP600：高精度测量，小型高精度触发式测头，适合对多种加工中心进行三维测量。

车削/磨削中心用工件检测测头

LP2 / LP2H：高性能紧凑型测头，高性能紧凑型测头，适合检测和对刀应用；

LTO2S：安装在刀塔上的工件检测测头，用于LP2和LP2H测头的刀塔安装式紧凑型光学传输系统；

LTO2T / LTO3T：直柄式安装，用于LP2和LP2H测头的直柄安装式紧凑型光学传输系统；

MP250：应变片式测头，MP250是用于磨床、采用Renishaw的创新RENGAGE™技术的应变片式工件检测测头。

工件找正的效益

使用测头可以省去昂贵的卡具，避免用千分表手动找正的不便。安装在加工中心的主轴和车削中心的刀架上的测头，带来以下益处：

减少机床停机时间；

自动卡具、工件校正和旋转轴设定；

消除手动设定误差；

降低废品率；

提高生产力和批量产品尺寸的灵活性。

在机工件检测的效益

在主轴及刀架上安装的测头也可用于序中测量和件检测 — 手动测量依赖于操作人员的技能，而将工件移到坐标测量机上检测的方法往往不可行。测头检测的效益包括：

通过自动修正偏置值进行序中工件测量；

增强无人加工的可靠性；

适应性加工，提供过程反馈，减小变化；

利用自动偏执更新进行检测；

缩短等候检测结果的停机时间。

2、对刀及刀具破损检测

Renishaw测头系统是一种创新的解决方案，可提高机床效率。

通过对刀可在开始切削以前测量刀具尺寸，并在机床运行期间检查刀具损坏或破裂情况。

节省时间。降低废品率。保持竞争力。

加工中心用解决方案

NC4：分离式系统（模块式），非接触式对刀和刀具破损检测；

NC4：固定式测头（紧凑型），非接触式对刀和刀具破损检测；

TS27R：接触式对刀和刀具破损检测， 用于加工中心的标准对刀测头；

TRS2：快速非接触式刀具破损检测，单侧式设备，通常能在1秒之内识别旋转刀具的存在；

OTS：接触式无线对刀和刀具破损检测，OTS采用光学信号传输，可在机床工作台上进行无线操作；

车削中心解决方案

HPRA：高精度插拔式对刀臂，具有高重复安装精度的插拔式对刀臂，使用RP3测头；

HPPA：高精度下拉式对刀臂，具有高重复安装精度的手动下拉式对刀臂，使用RP3测头；

HPMA：高精度机动对刀臂，具有高重复定位精度的全自动对刀臂，使用RP3测头；

RP3：用于高精度对刀臂的对刀测头，紧凑型五轴对刀测头，对刀臂应用的选择；

LP2：高性能紧凑型测头，高性能紧凑型测头，适合检测和对刀应用。

PCB钻孔机解决方案